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推薦質譜計的分類與主要性能參數

質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)根據質量(liang)分析系統的(de)工作(zuo)原(yuan)理可分為磁偏轉質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、回旋質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、飛行(xing)時間(jian)質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、射(she)頻質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、諧振感應質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)和四極(ji)質譜(pu)計(ji)(ji)(ji)等。

  • 標準壓縮式真空計比對校準真空計的方法

    標準(zhun)(zhun)(zhun)壓縮式真空計(ji)(ji)(ji)比(bi)對校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)真空計(ji)(ji)(ji)用(yong)比(bi)對法(fa)校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)其(qi)它標準(zhun)(zhun)(zhun)真空計(ji)(ji)(ji)量(liang)器(qi)具,在壓力范(fan)圍內,是一可靠(kao)的壓力標準(zhun)(zhun)(zhun),因(yin)此,各國(guo)普遍將它確(que)定為(wei)國(guo)家(jia)真空計(ji)(ji)(ji)量(liang)的基準(zhun)(zhun)(zhun)器(qi)具。

  • 動態流導法校準真空計的方法

    動態流導法(fa)有(you)時也稱為動態流量法(fa)和小(xiao)孔法(fa)校準,其校準下限隨真空(kong)獲得和小(xiao)流量測量水平而延伸。是(shi)目前超高(gao)(gao)真空(kong)和極(ji)高(gao)(gao)真空(kong)的切實可行的校準方法(fa)。

  • 靜態膨脹校準低真空計方法

    膨(peng)脹法校準是(shi)基于(yu)波意耳定(ding)律,即在恒定(ding)的(de)溫度下,一定(ding)質量(liang)的(de)氣(qi)體的(de)壓力與體積之積為一常數。首先將氣(qi)源(yuan)室中充有需要壓力為p1的(de)校準氣(qi)體,由標準真空計G2測量(liang)。

  • 真空計校方法準概述

    “真(zhen)空(kong)計(ji)(ji)校準(zhun)”就是(shi)對(dui)相對(dui)真(zhen)空(kong)計(ji)(ji)進行“刻度”。真(zhen)空(kong)計(ji)(ji)刻度是(shi)在一定(ding)條件下對(dui)一定(ding)種類氣體進行的,從而得到(dao)校準(zhun)系數(shu)或刻度曲線(xian)。

  • 質譜計的分類與主要性能參數

    質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)根(gen)據(ju)質(zhi)(zhi)量分析系統的工(gong)作原理可分為磁偏轉(zhuan)質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、回旋質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、飛行時間(jian)質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、射(she)頻質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)、諧振感應質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)和四極質(zhi)(zhi)譜(pu)計(ji)(ji)(ji)等。

  • 反映真空質量——分壓力測量

    為(wei)了測量(liang)真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)(kong)中(zhong)混合氣(qi)體(ti)組(zu)分和相(xiang)應的(de)(de)(de)分壓(ya)(ya)力值,必須進行分壓(ya)(ya)力測量(liang),所(suo)用的(de)(de)(de)儀器稱為(wei)分壓(ya)(ya)力真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)(kong)計,分壓(ya)(ya)力真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)(kong)計是專用的(de)(de)(de)小型質(zhi)譜(pu)儀器——真(zhen)(zhen)空(kong)(kong)(kong)質(zhi)譜(pu)計。

  • 質譜儀運行要求高真空的原因

    解釋下質譜(pu)儀運行要求高(gao)真空的原(yuan)因

  • 一種四極桿質譜儀真空測量及控制系統的研制

    本文介紹了一(yi)種用于四極(ji)桿質譜儀的真空(kong)測量與控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong),詳細闡述了系(xi)統(tong)結構、系(xi)統(tong)硬件電路及軟(ruan)件設計等。

  • 一種四極桿質譜儀真空測量及控制系統的軟件設計

    一(yi)(yi)種(zhong)四極桿質譜(pu)儀真(zhen)空測量及控制系統的(de)軟件控制主要包括兩個(ge)方面:一(yi)(yi)個(ge)是(shi)高真(zhen)空規即潘寧規的(de)自動(dong)開啟與關斷;另一(yi)(yi)個(ge)是(shi)儀器單元之(zhi)間的(de)級聯(lian)控制。

  • 一種四極桿質譜儀真空測量及控制系統的硬件電路設計

    本文(wen)講述了(le)一種四極(ji)桿質譜儀真空測量及(ji)控制系(xi)統的(de)硬件電(dian)路設計(ji)。

  • 一種四極桿質譜儀真空測量及控制系統的系統結構圖

    四極桿(gan)質譜儀真空(kong)測量(liang)及控制系統主(zhu)要由ARM 微控制器、ADC 采集電路、CAN 通(tong)訊接口、HM-TRP 無線收發模塊、上位機和(he)真空(kong)規組成。

  • 四極質譜儀在電子誘導脫附實驗中的應用

    在ESD 實驗(yan)中(zhong),四極(ji)質譜儀(yi)可(ke)以分析電子誘(you)導脫附(fu)后(hou)殘余氣體(ti)成(cheng)分:H2、H2O、CO、CO2 和少量的碳氫化合(he)物。

  • 基于四極質譜儀航天器單點檢漏應用研究

    為了研(yan)究四極質(zhi)譜(pu)儀(yi)在航天(tian)(tian)器(qi)單(dan)點檢漏應用中的可行性,本文對航天(tian)(tian)器(qi)單(dan)點模型和單(dan)點檢漏過程進行分(fen)析,并通過試驗對四極質(zhi)譜(pu)儀(yi)在航天(tian)(tian)器(qi)單(dan)點檢漏進行驗證。

  • 四極桿質譜儀中探測器——法拉第杯的工作原理

    本文(wen)介紹了(le)四極桿質譜儀(yi)中探測器——法(fa)拉第杯的工作原理(li)。

  • 四極桿質譜儀中啟用二次電子倍增器 (SEM)優缺點

    使用四極(ji)(ji)桿(gan)質譜儀測量(liang)真空腔體(ti)內的(de)(de)殘余氣(qi)體(ti)成份時,如果要測量(liang)極(ji)(ji)其小的(de)(de)離子電流或需要極(ji)(ji)其高(gao)的(de)(de)測量(liang)速(su)度(du),則使用物理前置放大器,即所謂的(de)(de)二次電子倍(bei)增器。

  • 空間小型磁偏轉質譜計的研制

    小型磁(ci)偏轉質(zhi)譜計經歷3 年多實(shi)(shi)(shi)現了從原理樣機、驗證件產品(pin)以及正樣產品(pin)的研(yan)制工作,并于2012 年年底(di)在實(shi)(shi)(shi)驗衛星(xing)上實(shi)(shi)(shi)現了搭載飛行,迄今為(wei)止已實(shi)(shi)(shi)現在空飛行測試(shi)近(jin)兩年。

  • 小型磁偏轉質譜計離子源設計與驗證

    本文介紹了(le)用于小型(xing)磁偏轉(zhuan)質譜計 的離(li)子源(yuan)(yuan)結(jie)構和供(gong)配(pei)電關系設計。同時還對離(li)子源(yuan)(yuan)內電場分(fen)布、離(li)子運動(dong)軌跡(ji)進(jin)行了(le)仿真分(fen)析,并通過質譜計整(zheng)機(ji)測試和試驗間接驗證了(le)離(li)子源(yuan)(yuan)設計。

  • 電真空器件烘烤排氣過程中殘余氣體質譜分析

    本文在真空排氣(qi)臺(tai)上安裝四極質譜儀,通過烘烤排氣(qi)過程中器件內(nei)出氣(qi)過程的質譜分(fen)析,對(dui)陰極及管內(nei)材料出氣(qi)過程及成分(fen)研究和評價。

  • 四極質譜儀真空檢漏方式的優缺點及注意事項

    使用(yong)四極質譜儀,可分析(xi)真(zhen)(zhen)空(kong)腔體(ti)(ti)內(nei)的(de)殘留氣體(ti)(ti),通(tong)過實(shi)時分析(xi)氣體(ti)(ti)成份,也可以實(shi)現(xian)真(zhen)(zhen)空(kong)檢漏。

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